可検出性テスト
[k, [n [,U [,Sld ] ] ]]=dt_ility(Sl [,tol])
線形システム (syslin
リスト)
不可観測な部分空間の次元
不安定かつ不可観測な部分空間の次元 (k<=n
).
直交行列
線形システム (syslin
リスト)
可制御性テストの閾値.
状態空間表現の線形システム
sl
の可検出性テスト.
U
は基数で,
その最初のk
列にSl
の
不安定かつ不可検出な部分空間
((A,C)
の不可観測な部分空間と
A
の不安定な部分空間の共通集合)
が広がります.
可検出性は,k=0
を意味します.
Sld = (U'*A*U,U'*B,C*U,D)
は,
Sl=(A,B,C,D)
の"可検出な部分" を
以下のように表示します.
(A33,C3)
は可観測 (nx-n
次),
A22
は可安定,
( n-k
次) ,
A11
は不可安定 ( k
次)です.